自动化测试设备

Vicor 的高密度高效率电源模块让 ATE 系统设计工程师能够实施供电网络 (PDN) 架构，从而允许在相同或更小尺寸的测试头中增加测试头引脚数。数据中心、军事、汽车和工业 IC 消耗的功率不断增加，并且具有许多不同的电压电平。Vicor 的 PDN 模块化方法让 ATE 制造商能够轻松扩展功率水平并支持不同的电压，从而实现快速开发和快速上市。

半导体制造商对自动测试设备 (ATE) 公司提出了更高的要求，希望设计出能快速可靠满足不断增长的 IC 需求的测试系统，并且尽可能少增加成本。IC 制造商将测试成本 (CoT) 视为一种成本增加因素，虽然需要且必要，但只减少产品利润，需要不断增加的工厂占地面积，并且不会改善周期时间和产量。ATE 系统制造商需要开发满足 IC 产品技术需求的测试系统，并且不会造成良率损失，并且占用与被替换产品相同或更少的工厂占地面积。