常见的MOSFET驱动拓扑与电路设计技巧大公开

作者:DigiKey Editor

常见的MOSFET驱动电路拓扑(Topologies),包括低边驱动、高边驱动、推挽驱动、自举驱动、光隔离驱动、全桥/半桥驱动,这些驱动方式会根据MOSFET的类型(N-channel或P-channel)、安装位置(高边/低边)、开关频率及功率等条件而有所不同。

 

1. 低边驱动(Low-side Drive)

在低边驱动的结构中,N-MOSFET安装在负载与接地之间(负载在上、MOSFET在下),栅极由MCU或驱动器输出电压直接控制,其适用于LED调光、电机启动、开关控制、电源管理等场景,以及多数PWM控制场景(Buck降压转换器)。

低边驱动具有N-MOSFET导通阻抗低、开关速度快、成本低的优点,驱动简单,可直接由MCU控制,但接地端可能产生电流突波,影响信号质量(需注意接地分离与滤波),不适合做高边电源切换。

采用低边驱动设计时,首先应选择适当的MOSFET,应确保MOSFET的阈值电压(Vth)低于驱动电压,以便完全导通,并选择具有低导通电阻(RDS(on))的MOSFET,以减少功率损耗和热量产生。

UCCx732x低边驱动电路范例UCCx732x低边驱动电路范例

在驱动电压与电流考虑方面,应确保驱动电压足以使MOSFET完全导通。以上图为例,针对高速开关应用,使用TI UCC27324 高速双路MOSFET驱动器,可提供高达4A峰值拉电流和4A峰值灌电流,输出级还可并联使用,以提供更高的单路驱动电源。

在栅极电阻设计时,应采用适当的栅极电阻,以控制MOSFET的开关速度,减少电磁干扰(EMI),并有助于防止栅极振荡现象。此外,应采用栅极拉低电阻以防止误导通,在驱动器关闭时,拉低电阻可确保MOSFET保持关闭状态,防止因浮动电压而误导通。在设计PCB布局与接地时,应最小化回路面积,减少电流回路的面积,以降低EMI,并采用良好的接地设计,确保驱动器和功率MOSFET具有良好的接地连接,避免地电位差引起的问题。

 

2. 高边驱动(High-side Drive)

高边驱动的结构是将MOSFET接在电源与负载之间(负载在下、MOSFET在上),多为P-MOSFET或搭配N-MOSFET加上驱动器(Bootstrap),适用于控制电源开关(如电池正端开关、电源管理)、H-Bridge半桥/全桥驱动中的高边场景。

高边驱动具有适合电源正端控制,断开时整个负载为浮地,安全性较高的优点,可应用于锂电池切换、防反接保护,但其P-MOSFET的Rds(on)较高、性能稍差。若用N-MOSFET高边驱动,需采用自举电路(Bootstrap)或电荷帮浦(charge pump)来增加控制复杂度。

FAN73711高边驱动电路范例FAN73711高边驱动电路范例

在采用高边驱动设计时,需先考虑驱动电压需求,高边N通道MOSFET的源极电压会随负载电压上升,因此其栅极需比源极高出约10V以确保完全导通。在采用自举(Bootstrap)电路时,常用于提供高边驱动所需的电压。自举电容需在MOSFET关闭期间充电,因此不适用于长时间导通的应用。以上图的高边驱动电路为例,使用了一个onsemi的FAN73711,输入端支持3.3V或5V数字信号直接驱动。

对于需要长时间导通或高可靠性的应用,可采用隔离式驱动,如光耦合器、变压器或电容式隔离,以提供稳定的高边驱动电压。此外,在设计中应包含保护机制,像是过压保护、欠压锁定(UVLO)和短路保护等功能,以防止器件损坏。在PCB布局方面,应注意减少寄生电感和电容,确保驱动信号的完整性,并避免因布局不当导致的EMI问题。

 

3. 推挽驱动(Push-Pull Drive)

推挽驱动的结构是由两颗MOSFET或双极晶体管构成,形成一对互补输出,驱动端交替导通,用于提升或下降栅极电压,适用于栅极驱动IC输出级(如Microchip TC4420TC4429 等)、高频率、高电流开关驱动(如PWM控制、电机控制)等场景。

推挽驱动具有能快速充放栅极电容(快速开关)、提供强驱动能力(>2A)、降低交越损耗的优点,但其成本略高、控制较复杂,且需处理死区时间(Dead Time)避免上下导通产生贯通电流。

在推挽驱动的设计注意事项方面,需要防止交越导通(Shoot-Through),这是因为在推挽驱动中,两个驱动器需交替导通,若未设置适当的死区时间,可能导致上下驱动器同时导通,造成短路。此外,还需控制开关速度,过快的开关速度可能引起电磁干扰(EMI)和振荡,通过调整栅极电阻值,可控制开关速度,降低EMI。

三极管低边推挽驱动电路范例三极管低边推挽驱动电路范例

以上图采用三极管低边推挽驱动电路为例,驱动三极管可以使用80508550,或者B772D882,此处测试使用的电源是DC 12V,所以不需要额外的电源提供驱动电压,如果负载端的电压高于控制电压,就要将驱动电压降到MOSFET的Vgs的最大范围内。

另一方面,应选择适当的驱动电流,根据MOSFET的栅极电荷和所需的开关速度,选择具有足够驱动电流能力的驱动器,以确保MOSFET能快速充放电。此外,应具有良好的PCB布局,减少驱动路径的寄生电感和电容,确保驱动信号的完整性,并避免因布局不当导致的EMI问题。

 

4. 自举电路驱动(Bootstrap Drive)

自举电路驱动的结构是利用电容将低边MOSFET导通时的电压差存储在电容中,再用此电压驱动高边N-MOSFET,其适用于半桥或全桥电路(如逆变器、电机驱动器),可提升Vgs驱动高边MOSFET等场景。

自举电路驱动可用N-MOSFET当高边来降低Rds(on)以提升效率,并具有成本低、简单可靠的优点,但当高边MOSFET无法长时间导通时,需定期刷新自举电容,并受限于PWM最低占空比,需要有足够时间让自举电容充电。

自举电路驱动在设计时,首先要考虑自举电容(C_boot)的选择,在容量计算上,自举电容应至少为高边MOSFET栅极电容的10倍,以确保在开关期间提供足够的电荷。选择时应使用低等效串联电阻(ESR)和低等效串联电感(ESL)的多层陶瓷电容(MLCC),以减少电压涟波和提高可靠性。

在自举二极管的选择方面,应选择具有低正向压降和快速恢复特性的肖特基二极管,以减少功率损耗和提高开关速度。在自举电阻(R_boot)的应用上,应限制启动期间通过自举二极管的峰值电流,保护器件免受损坏。此外,电阻值需平衡充电时间和电流限制,避免过大的充电延迟或过高的启动电流。

在布局考虑上,应将自举电容和二极管尽可能靠近驱动器IC,减少寄生电感和电阻,提升系统性能,并最小化高电流路径的回路面积,降低电磁干扰(EMI)和电压尖峰。

在应用上,需要注意导通时间限制。自举电路不适用于高边MOSFET长时间导通,因为电容可能无法持续提供足够的电压。在低频或静态应用中,自举电容可能无法充分充电,建议使用隔离式驱动方案。

MOSFET自举驱动电路范例MOSFET自举驱动电路范例

以上图的自举驱动电路为例,此图展示了高度简化的高边MOSFET栅极驱动电路,分别用于驱动有刷和无刷电机的H桥或三相H桥相关的高度简化的电路,自举电容器C1为MOSFET栅极驱动提供能量,栅极驱动直接取自光隔离器的输出晶体管。该电路使用共集电极配置,以便NPN晶体管将MOSFET上拉至自举电压。关断时,电阻器R2将通过R4限流电阻器对MOSFET栅极放电。市面上常见的自举驱动IC包括TI UCC27710、Infineon EiceDRIVER系列

 

5. 光偶隔离驱动(Opto-Isolated Drive)

光偶隔离驱动的结构是通过光耦(Optocoupler)连接到MOSFET的栅极,将逻辑边与功率边电隔离,常搭配隔离型栅极驱动器,适用于工业控制、电源模块、电机驱动、高压系统(>60V)等场景,以及对安全要求高的应用。光偶隔离驱动具有完整隔离控制与功率路径、增强耐噪性与ESD保护的优点,但其成本与体积较大,并受到传输延迟与带宽限制(视光耦速度而定)。

光偶隔离驱动在设计时应先选择专为驱动MOSFET设计的光耦合器,如onsemi的FOD3182 或Broadcom的HCPL-3180,这些器件具有足够的输出电流能力,能够快速充放MOSFET的栅极电容,实现快速开关。此外,还应考虑驱动电流能力,光耦合器的输出电流必须足以驱动MOSFET的栅极。若光耦合器的输出电流不足,可能需要在其输出端添加一级缓冲放大器,如达林顿对(Darlington pair)或MOSFET驱动器IC,以提供足够的驱动电流。

FOD3182光耦隔离MOSFET驱动电路范例FOD3182光耦隔离MOSFET驱动电路范例

另一方面,应设计适当的栅极电阻,在光耦合器的输出与MOSFET栅极之间添加适当的电阻,可以控制开关速度,减少振荡和EMI,电阻值的选择需在开关速度和电磁干扰之间取得平衡。此外,应设置栅极下拉电阻,在MOSFET的栅极与源极之间添加下拉电阻,确保在光耦合器未导通时,MOSFET保持关闭状态,防止因栅极悬空而导致的误导通。另外还需注意光耦合器的开关速度,光耦合器的开关速度会影响整个电路的响应速度,应选择具有快速上升和下降时间的光耦合器,以满足高频开关应用的需求。

 

6. 全桥/半桥驱动(H-Bridge / Half-Bridge)

全桥/半桥驱动的结构是使用4颗或2颗N-MOSFET来控制正反向电流流动,常见于DC电机正反转控制、逆变器、UPS等,适用于电机控制(DC、步进)、功率逆变器、再生制动系统等场景。

全桥/半桥驱动具有可进行双向电流控制(正反转)、能回收能量(再生制动)的优点,但也有控制复杂,需精确控制死区,以及高边MOS仍需自举或隔离驱动的缺点。

全桥/半桥驱动在设计上应防止交越导通(Shoot-Through),在全桥和半桥拓扑中,需确保上下MOSFET不会同时导通,以防止电源短路,这通常通过设置适当的死区时间来实现。此外,高边MOSFET的驱动通常依赖自举电路,设计时需确保自举电容有足够的容量,并选择低正向压降的二极管,以保证高边MOSFET能够可靠导通。

另一方面还需控制开关速度,过快的开关速度可能引起电磁干扰(EMI)和振荡,通过调整栅极电阻值,可控制开关速度,降低EMI,并进行适当的PCB布局,将有助于减少寄生电感和电容,确保驱动信号的完整性,并避免因布局不当导致的EMI问题。

IR2104半桥驱动电路范例IR2104半桥驱动电路范例

以上图的半桥驱动电路违例,半桥驱动的MOS三极管分成上桥臂与下桥臂,采用Infineon IR2104 便可用一个输入信号同时控制上下桥臂,内部便具有死区时间,选择MOSFET时要注意开关速度与死区时间。单独使用半桥驱动一般应用在同步DC-DC整流,在电机控制或逆变器中,通常会使用两个半桥,构成一个全桥来使用。

HIP4080A全桥驱动电路范例HIP4080A全桥驱动电路范例

以上图瑞萨的HIP4080A 全桥驱动电路为例,四个桥臂以四个输入单独来控制,也可以使用两个输入控制四个桥臂。若再加一个反向器,只需要一个PWM信号即可控制四个桥臂,并且可以通过DEL引脚配置死区时间。全桥一般应用在单向逆变器,或需要控制速度和方向的直流电机驱动中。

 

驱动拓扑 适用场景 优点 缺点 常见驱动IC解决方案
低边驱动(Low-Side) 单通道开关、低电压应用 设计简单,成本低,控制电压与源极共地 高边MOSFET需要额外驱动电压,无法实现高边开关 TI UCCx732x、Microchip MIC4422
高边驱动(High-Side) 半桥、全桥拓扑、电机控制 可实现高边开关,适用于高压应用 需要自举电路或隔离驱动,设计复杂 Infineon IRS2007、onsemi FAN73711
推挽驱动(Push-Pull) 高频开关电源、数字电路 提供较大驱动电流,适用于高速开关 需要精确控制死区时间,防止交越导通 Microchip TC4420、TC4429
自举驱动(Bootstrap) 半桥、全桥拓扑、高边开关 无需额外隔离电源,成本较低 高边MOSFET导通时间受限,需考虑自举电容容量 TI UCC27710、Infineon IRF510
光耦隔离驱动(Optocoupler) 高压隔离应用、电机控制、电源转换器 提供电气隔离,保护控制电路 驱动速度较慢,需考虑光耦合器的开关速度 Broadcom HCPL-3180、onsemi FOD3182
全桥/半桥驱动(Full/Half Bridge) 高功率应用、逆变器、DC-AC转换器 提供双向功率控制,适用于高功率应用 需要精确控制死区时间,防止交越导通 TI DRV8412、Infineon IEiceDRIVER系列、瑞萨HIP4080A

 

结语

深入探讨了各种MOSFET的电路设计拓扑后,可以了解选择合适的电路设计拓扑与掌握正确的设计技巧,是确保系统稳定性、开关效率与安全性的关键。不论是简单的低边驱动,还是复杂的全桥电路,设计者都必须根据实际应用需求,仔细考虑电压电流规格、开关频率、驱动能力与保护机制等要素。

掌握如自举原理、死区控制、驱动电流匹配、以及隔离防护等技巧,不仅能大幅提升驱动效率,还能有效延长MOSFET与系统寿命。随着电源电子与智能控制应用不断扩展,MOSFET驱动技术也将持续演进,带来更多可能性,让我们善用这些设计技巧,打造更高效、更可靠、更智能的电子系统!

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